Aparatura

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop optyczny Nikon

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Dyfraktometr rentgenowski (XRD)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Goniometr RTG Delta Technologies do orientowania kryształów (3 szt.)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Chropowatościomierz Mitutoyo

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop sił atomowych (AFM) Bruker

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

System metrologii optycznej / interferometr ATOS

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop optyczny Zeiss

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop optyczny Nikon

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Profilometr optyczny 3 D

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Układ transferowy do wytwarzania struktur warstwowych 2D na bazie eksfoliacji znajdujący się w neutralnej atmosferze w komorze rękawicowej

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Stanowisko pomiarowe na bazie wektorowego analizatora sieci (ang. Vector Network Analyser VNA)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Kriogeniczna stacja ostrzowa pracująca w zakresie 10-500 K z wbudowanym polem magnetycznym do 2.5 T