Aparatura

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

THz FTIR spektrometr próżniowy wraz z modułem fotoluminescencji

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Suchy kriostat helowy dla magnototrasportowych pomiarów w wysokich ciśnieniach

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Suchy magnes nadprzewodzący 9T z ciepłą dziurą 200 mm

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

THz kwantowe lasery kaskadowe

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

THz spektrometr w domenie czasu

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop optyczny Nicon Eclypse LV150 N

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Transmisyjny Mikroskop Elektronowy FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN (200 kV)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Veeco Atomic Force Microscope (AFM)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop sił atomowych (AFM) firmy NTMDT

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Wysokorozdzielczy dyfraktometr rentgenowski Empyrean Panalytical

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Układ pomiarowy do detekcji głębokich stanów pułapkowych technikami spektroskopii DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy), L-DLTS (Laplace DLTS), DLOS (Deep Level Optical Spectroscopy) oraz TAS (Thermal Admittance Spectroscopy).

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Spektrometr Mas Jonów Wtórnych CAMECA IMS 7f-Auto