Nazwa: 21st International Conference on Defects Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP Conference)
Organizatorzy: Instytut Wysokich Ciśnień PAN
Przewodniczący konferencji: dr hab. inż. Julita Smalc-Koziorowska, Institute of High Pressure Physics PAS, vice-chair: prof. Sławomir Kret, Institute of Physics PAS
Data: 30 sie 2026 3 wrz 2026
Miejsce: Warszawa, Polska
Typ: Konferencja stacjonarna
Strona konferencji

Opis konferencji

Organizowana w Warszawie konferencja 21st International Conference on Defects Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIP Conference), będzie okazją do zaprezentowania najnowszych osiągnięć w zakresie analizy, kontroli i zrozumienia wpływu defektów na właściwości materiałów, niezawodność i ogólną wydajność urządzeń.

Powrót do listy konferencji