Aparatura

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

System metrologii optycznej / interferometr ATOS

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop optyczny Zeiss

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop optyczny Nikon

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Profilometr optyczny 3 D

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Układ transferowy do wytwarzania struktur warstwowych 2D na bazie eksfoliacji znajdujący się w neutralnej atmosferze w komorze rękawicowej

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Stanowisko pomiarowe na bazie wektorowego analizatora sieci (ang. Vector Network Analyser VNA)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Kriogeniczna stacja ostrzowa pracująca w zakresie 10-500 K z wbudowanym polem magnetycznym do 2.5 T

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

THz FTIR spektrometr próżniowy wraz z modułem fotoluminescencji

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Suchy kriostat helowy dla magnototrasportowych pomiarów w wysokich ciśnieniach

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Suchy magnes nadprzewodzący 9T z ciepłą dziurą 200 mm

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

THz kwantowe lasery kaskadowe

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

THz spektrometr w domenie czasu