Aparatura

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop optyczny Nicon Eclypse LV150 N

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Transmisyjny Mikroskop Elektronowy FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN (200 kV)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Veeco Atomic Force Microscope (AFM)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop sił atomowych (AFM) firmy NTMDT

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Wysokorozdzielczy dyfraktometr rentgenowski Empyrean Panalytical

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Układ pomiarowy do detekcji głębokich stanów pułapkowych technikami spektroskopii DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy), L-DLTS (Laplace DLTS), DLOS (Deep Level Optical Spectroscopy) oraz TAS (Thermal Admittance Spectroscopy).

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Spektrometr Mas Jonów Wtórnych CAMECA IMS 7f-Auto

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop sił atomowych AFM FX40 ParkSystems