Lutz Kirste
| Organizacja: | Instytut Wysokich Ciśnień PAN |
| Tytuł pracy: | |
| Typ pracy: | Habilitacja |
| Dziedzina nauki: | Nauki ścisłe i przyrodnicze / Natural sciences |
| Dyscyplina naukowa: | Nauki fizyczne / Physical sciences |
| Tytuł osiągnięcia: | Zaawansowane obrazowanie defektów metodą dyfrakcji Bragga w podłożach GaN do zastosowań w elektronice dużej mocy |
| Język pracy: | Angielski |
| Promotor: | |
| Recenzenci: | Prof. dr hab. Tomasz Wojtowicz – Instytut Fizyki PAN, Prof. dr hab. inż. Krzysztof Wierzbanowski – Akademia Górniczo-Hutnicza im. Stanisława Staszica w Krakowie, Prof. dr hab. Radosław Przeniosło – Uniwersytet Warszawski, Dr hab. Ryszard Sobierajski, prof. IF PAN – Instytut Fizyki PAN. |
| Data obrony: | 27.08.2026, godzina 13:00 |
| Miejsce obrony: | Instytut Wysokich Ciśnień Polskiej Akademii Nauk ul. Sokołowska 29/37, 01-142 Warszawa sala seminaryjna (II piętro) Transmisja na Zoom (wymagana rejestracja) |
| Język obrony lub kolokwium: | Angielski |
Zawiadomienie o kolokwium habilitacyjnym