| Nazwa: | Preparatyka próbek do transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM) |
| Osoba kontaktowa: | Dr hab. inż. Julita Smalc-Koziorowska julita@unipress.waw.pl Dr inż. Artur Lachowski artur@unipress.waw.plDr inż. Joanna Moneta joanna.moneta @unipress.waw.pl |
| Laboratorium: | NL-12 |
| Lokalizacja: | al. Prymasa Tysiąclecia 98, Warszawa |
Możliwości badawcze i dane techniczne
Oferujemy przygotowanie preparatów zarówno z materiałów nanocząsteczkowych, jak i objętościowych, z wykorzystaniem klasycznych technik polerowania mechanicznego i jonowego. Wykonujemy przekroje poprzeczne, próbki w widoku planarnym oraz próbki klinowe. Dysponujemy pełną infrastrukturą do przygotowania preparatów do badań TEM, obejmującą m.in. piłę drutową K.D. Unipress WS25, polerkę mechaniczną Allied MultiPrep System oraz polerkę jonową Gatan Precision Ion Polishing System (PIPS). Preparaty otrzymane metodami klasycznymi charakteryzują się obecnością stosunkowo dużych obszarów cienkich, otoczonych materiałem objętościowym, co sprzyja prowadzeniu badań TEM. Umożliwiają one analizę struktur w nanoskali przy zachowaniu warunków zbliżonych do tych panujących w materiale objętościowym (naprężenia, koncentracja defektów). Dodatkowo techniki te powodują mniejsze uszkodzenia struktury materiału w porównaniu z preparatami przygotowywanymi metodą Focused Ion Beam (FIB)