Aparatura

Wytwarzanie materiałów i struktur

Napylarka katodowa Q150R Quorum

Wytwarzanie materiałów i struktur

Lampa Xenonowa 1000 W Firmy Oriel

Wytwarzanie materiałów i struktur

Lampa Xenonowa 300 W Firmy Oriel

Wytwarzanie materiałów i struktur

System Precyzyjnego Polerowania Jonowego Gatan PIPS Model 691

Wytwarzanie materiałów i struktur

Polerka Mechaniczna Allied MultiPrep System 8″

Wytwarzanie materiałów i struktur

Preparatyka próbek do transmisyjnej mikroskopii elektronowej (TEM)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Transmisyjny Mikroskop Elektronowy FEI Tecnai G2 F20 S-TWIN (200 kV)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Veeco Atomic Force Microscope (AFM)

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Mikroskop sił atomowych (AFM) firmy NTMDT

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Wysokorozdzielczy dyfraktometr rentgenowski Empyrean Panalytical

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Układ pomiarowy do detekcji głębokich stanów pułapkowych technikami spektroskopii DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy), L-DLTS (Laplace DLTS), DLOS (Deep Level Optical Spectroscopy) oraz TAS (Thermal Admittance Spectroscopy).

Charakteryzacja materiałów i przyrządów

Spektrometr Mas Jonów Wtórnych CAMECA IMS 7f-Auto